手機外觀缺陷檢測設(shè)備(NANO-MVI-1000）是一個集成了光、機、電、自動化等技術(shù)的精密機器視覺識別系統(tǒng)。基于手機外形不一的特殊性，該產(chǎn)品采用了高度集成

的光學(xué)成像系統(tǒng)、精密傳動裝置和模塊化的整機系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，能夠檢測不同品牌、不同型號的手機外觀，并支持在線和離線的自動光學(xué)檢測。

設(shè)備配置

1. 自主研發(fā)的外觀缺陷檢測軟件

2. 高像素工業(yè)相機1個（可根據(jù)實際需求，選配2-4個輔助相機）

3. 高清晰工業(yè)鏡頭；高亮度、高均勻性LED照明光源

4. 高精密、高穩(wěn)定性的機械結(jié)構(gòu)及傳動部件

設(shè)備名稱:手機外觀平面度檢測設(shè)備

功能描述：設(shè)備為手機玻璃等產(chǎn)品高性能3D外觀缺陷檢測設(shè)備。可實現(xiàn)對手機外殼玻璃、中框、電池蓋、Logo及攝像頭等產(chǎn)品進行外觀缺陷、平面度及輪廓度、尺寸與高度差等檢測。核心技術(shù)為進口光譜傳感器，結(jié)合自行開發(fā)的專業(yè)軟件系統(tǒng)，可實現(xiàn)手機殼、玻璃或金屬件表面(外觀)及內(nèi)部的缺陷檢測。是專為手機等3C系列產(chǎn)品外觀缺陷定制開發(fā)的一種綜合功能強大的外觀檢測設(shè)備。

特點

該設(shè)備通過內(nèi)置先進的進口3D光譜共焦傳感器，并整合激光線掃相機及CCD相機，可實現(xiàn)手機殼、玻璃或金屬件及其他高反光或炫彩光干擾的表面外觀甚至內(nèi)部的缺陷檢測，包含：平面度、輪廓度、高差、顏色差、臟污、劃傷痕跡、較大顆粒灰塵等等。檢出率高較一般激光線掃設(shè)備高。核心光譜共焦技術(shù)的開發(fā)應(yīng)用，是目前國內(nèi)首創(chuàng)的高性能外觀檢測技術(shù)，徹底解決了目前一般線掃相機外觀檢測易受材料本身反光、炫彩光、周圍環(huán)境光源、灰塵等因素干擾的影響，對于一般外觀檢測設(shè)備不能較好完成的3D外觀檢測項目，以及人手與眼睛對產(chǎn)品外觀的檢測疲勞與分不清部分精細的劃痕的檢測難點，是較好的技術(shù)解決方案。可節(jié)省人力12人以上，檢出率高，性能穩(wěn)定可靠。